试验探针的使用方法：
 

　　1、标准试验指的关节部分不能触及带电部件或不能接近危险部件，并且35mm的圆挡板不能进入。
 

　　2、防止接近危险部件的试验要求中，C、D型试验探棒需带3±0.3NN或1±0.1N推力。
 

　　注意：不带推力产品请配合推拉力计使用。
 

　　试验探针的使用注意事项：
 

　　(1)请不要轻易调整推力，如需调整，请使用分辨至少为0.033N仪器对C、D型试验探棒进行校准。
 

　　(2)由于试验探棒较为精密机械产品，使用时请轻拿轻放，妥善保管。
 

　　(3)试验探棒顶部可能会生锈，注意保养防护。
 

　　试验探针根据电子测试用途可分为：
 

　　1、光电路板测试探针：未安装元器件前的电路板测试和只开路、短路检测探针，国内大部分的探针产品均可替代进口产品；
 

　　2、在线测试探针：PCB线路板安装元器件后的检测探针；产品的核心技术还是掌握在国外公司手中，国内部分探针产品已研发成功，可替代进口探针产品；
 

　　3、微电子测试探针：即晶圆测试或芯片IC检测探针，核心技术还是掌握在国外公司手中，国内生产厂商积极参与研发，但只有一小部分成功生产。
 

　　探针根据主要类型可以分为：悬臂探针和垂直探针。
 

　　悬臂探针：劈刀型(BladeType)和环氧树脂型(EpoxyType)
 

　　垂直探针：垂直型(VerticalType)