1）试验探针的50-Ω平面传输线应当直接与DUT压点相接触而不用接触导线。对于微带线和随后的共面试验探针设计，试验探针的接触是用小的金属球来实现的，这个金属球要足够大以保证可靠且可重复性的接触。  

    2）为了能同时接触到DUT的信号压点和接地压点，需要将试验探针倾斜。这个过程被称为“试验探针的平面化”。  

    3）试验探针的接触重复性比同轴连接器的可重复性要好得多。便于进行试验探针极尖和在片标准及校准方法的开发。  

    4）具有很高重复性的接触可以进行试验探针的准确校准并将测量参考平面移向其极尖处。来自试验探针和到同轴连接器的过渡所产生的试验探针的损耗及反射是通过由射频电缆和连接器的误差相类似的方式而抵消的。  

    5）由于其很小的几何尺寸，人们可以假设平面标准件的等效模型纯粹是集总式的。此外，人们可以从标准件的几何尺寸来很容易地预测模型参数。